2015 02 17 mgr inż. Wojciech Kupś Status: Zakończone
W dniu 17 lutego 2015r. Ośrodek „OIKOS” Sp. z o.o. organizuje szkolenie pt.
„Zapewnienie spójności pomiarowej w badaniach chemicznych (analitycznych)”
Czas trwania:
1dzień (od 9:00 do 16:00)
Cena netto:
490,00zł/osoba
Prosimy o składanie zgłoszeń do: 10 lutego 2015r.
Prowadzący szkolenie:
mgr inż. Wojciech Kupś – Audytor, trener w zakresie normy 17025, konsultant. Posiada wieloletnie doświadczenie w kierowaniu pracą akredytowanego laboratorium, chemik analityk.
Zakres tematyczny szkolenia:
Szkolenie przeznaczone jest dla personelu laboratoriów wykonujących badania analityczne. Zaprezentowane zostaną podstawowe pojęcia metrologiczne i ich interpretacja w badaniach analitycznych. Przedstawione zostaną wymagania normy PN-EN ISO/IEC 17026:2005 oraz dokuemntu PCA – DA-06 (PCA).
Program:
Podstawowe definicje / pojęcia dotyczące metrologii i spójności pomiarowej:
- ISO Guide 99,
- w analityce.
Spójność pomiarowa i wzorcowanie w badaniach analitycznych i materiały odniesienia.
Wzorcowania wewnętrzne i wymagania DA-06.
Nadzorowanie wyposażenia a spójność pomiarowa:
- przyrządy do pomiaru objętości,
- harmonogram nadzorowania wyposażenia,
- częstotliwość czynności metrologicznych w badaniach analitycznych.
Przykłady dotyczące spójności pomiarowej:
- metoda spektrofotometryczna,
- metoda miareczkowa,
- metoda elektrochemiczna,
- metody instrumentalne.
Gwarantujemy:
materiały szkoleniowe,
certyfikat uczestnictwa,
serwis kawowy w trakcie zajęć.
Osoby zainteresowane udziałem w szkoleniu prosimy o kontakt telefoniczny lub przesłanie zgłoszenia mailem: [email protected]
Miejsce:
Ośrodek Badań Podstawowych Projektów i Wdrożeń
Ochrony Środowiska i Biotechnologii „OIKOS” Sp. z o.o.
55-010 Święta Katarzyna
ul. Powstańców Śląskich 8
tel. (71) 311-43-04, 311-43-06
www.oikoslab.pl
[email protected]
FAX: (71) 311-43-12
Formularze zgłoszeniowe:
